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ISO14001

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電子部
TEL)044-852-7575
FAX)044-854-1979

各種評価用膜付ウェハ

名称 膜構造 備考
Th-OX 熱酸化膜単層 -
TEOS-OX プラズマTEOS酸化膜単層 -
HDP-OX HDP酸化膜単層 熱処理有り
Cu メッキCu
シードCu(スパッタ)
Taスパッタ
熱酸化膜


φ8"ノッチタイプのみ
熱処理有り
W CVD W
TiN(スパッタ)
プラズマ酸化膜
-
TiN TiNスパッタ
プラズマ酸化膜
-
Ta Ta(スパッタ)
熱酸化膜
-
TaN TaN(スパッタ)
熱酸化膜
-
Poly-Si LP Poly-Si -
LP-SiN LP Si3N4単層 -
PE-SiN プラズマSiN膜単層 -
PE-SiO プラズマSiO膜単層 -
PE-SiON Poly-Si膜単層 -
Low-K SIOC, SIC 等 -

ウェハサイズは原則 8インチノッチタイプ、 6インチオリフラタイプとなります。その他のサイズについてはお問合せください。
膜厚についてはご相談ください。また、これらの膜種を組み合わせた構造についても検討しますのでご相談ください。
これらウェハのパターン形成についても承ります
各サンプルはオプションでレーザーマーク可能です。必要時はご指定ください。
バックグラインド加工についても必要に応じてご相談ください。

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